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  • PCT高壓加速壽命試驗
    PCT高壓加速壽命試驗

    PCT高壓加速壽命試驗機主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCTZ主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之接口滲入封裝體。

    時(shí)間:2024-05-21瀏覽量:1648
  • 飽和型加速壽命試驗機
    飽和型加速壽命試驗機

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  • PCT加速老化試驗機
    PCT加速老化試驗機

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  • PCT高壓壽命試驗機
    PCT高壓壽命試驗機

    PCT高壓壽命試驗機主要作用是用來(lái)測試半導體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之接口滲入封裝體.

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